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国际上材料领域比较权威的杂志有哪些,AFM,AM全称是什么?

百变鹏仔1年前 (2023-12-05)阅读数 9#综合百科
文章标签显微镜原子

学光杂志,AFM全称Atomic Force Microscope,AM全称为:Advanced Materials。

AFM即原子力显微镜,它是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测,或者直接进行纳米操纵。

现已广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中。

Advanced Materials是工程与计算大学科、材料与化学大领域(包含材料化学,材料物理,生物材料,纳米材料,光电材料,金属材料,无机非金属材料,电子材料等等非常多的子学科,以及非常大量与材料相关的研究领域)的顶尖期刊,在国际材料领域科研界上享誉盛名。

其他:

AFM优点:

原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描,从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。

AFM原理:

当原子间距离减小到一定程度以后,原子间的作用力将迅速上升。因此,由显微探针受力的大小就可以直接换算出样品表面的高度,从而获得样品表面形貌的信息。

以上内容参考:Advanced Materials-百度百科

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Rq 均方根粗糙度 Rq是在取样长度内,轮廓偏离平均线的均方根值,它是对应于Ra的均方根(Rms)参数。这里 Rq的引出均方根值是将每一个值平方,然后将该平方平均后再开平方。 与算术平均值相比,Rms(均方根值)具有侧重给出较高值的作用。这可用下面的三组值来说明: 3, 4, 5 2, 4, 6 1, 4, 7 其每一组的算术平均是4,这三组中,较高的值按1连续增加(5,6,7),正好等于较低的值按1连续减小(3,2,1)。其各自的rms(均方根值)值是,说明最大数字的增加,在权重上超过了最低数字的减小。这就是为什么会有两个平均值(Ra和Rq)的原因。Ra可容易的从轮廓记录中得到,因此该参数最初适用在粗糙度测量仪器变成通用仪器之前。从统计学来讲,rms(均方根值)值比算术平均值更有意义。

杂志有:

1、《Nature Reviews Materials》《自然评论材料》

2、《Nature Energy》《自然能量》

3、《NATURE MATERIALS》《自然材料》

4、《Nature Nanotechnology》《自然纳米技术》

5、《ADVANCED MATERIALS》《先进材料》

6、《Advanced Energy Materials》《先进能源材料》

7、《Materials Today》《今日材料》

8、《PROGRESS IN MATERIALS SCIENCE》《材料科学进展》

9、《MATERIALS SCIENCE & ?ENGINEERING R-REPORTS》《材料科学与工程研究报告》

10、《INTERNATIONAL MATERIALS REVIEWS》《国际材料评论》

AFM:ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS;原子力显微镜

AM:Advanced Materials;先进材料

扩展资料

AFM优点:

原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描,从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。

与常规显微镜比较,原子力显微镜的优点是在大气条件下,以高倍率观察样品表面,可用于几乎所有样品(对表面光洁度有一定要求),而不需要进行其他制样处理,就可以得到样品表面的三维形貌图象。并可对扫描所得的三维形貌图象进行粗糙度计算、厚度、步宽、方框图或颗粒度分析。具体如下:

1、高分辨力能力远远超过扫描电子显微镜(SEM),以及光学粗糙度仪。样品表面的三维数据满足了研究、生产、质量检验越来越微观化的要求。

2、非破坏性,探针与样品表面相互作用力为10-8N以下,远比以往触针式粗糙度仪压力小,因此不会损伤样品,也不存在扫描电子显微镜的电子束损伤问题。另外扫描电子显微镜要求对不导电的样品进行镀膜处理,而原子力显微镜则不需要。

3、应用范围广,可用于表面观察、尺寸测定、表面粗糙测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、保护层的尺寸台阶测定、层间绝缘膜的平整度评价、VCD涂层评价、定向薄膜的摩擦处理过程的评价、缺陷分析等。

4、软件处理功能强,其三维图象显示其大小、视角、显示色、光泽可以自由设定。并可选用网络、等高线、线条显示。图象处理的宏管理,断面的形状与粗糙度解析,形貌解析等多种功能。

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参考资料:

百度百科-AFM(原子力显微镜)

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