dft是什么?

DFT是design for testability（可测试性技术）的缩写。

DFT是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。DFT的理念基于结构化测试（分治法），它并不是直接对芯片的逻辑功能进行测试来确保功能正常。而是尽力保证电路之间的低层级模块和它们之间的连接正确。

电路测试有时并不容易，这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构，例如扫描链等，内部信号可以暴露给电路外部。总之，在设计阶段添加这些结构虽然增加了电路的复杂程度，看似增加了成本，但是往往能在测试阶段节约更多的时间和金钱。

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DFT的关键也就在于取舍，测试逻辑的代价和效果的平衡。核心目的在于提高Observability?和Controllability。DFT主要负责制造时产生的缺陷检测，逻辑上的错误鞭长莫及。具体例子就是芯片挑体质。

在RTL设计阶段开始介入，设计插入DFT逻辑，设计并验证测试向量（功能仿真），综合时序也要收敛，得到芯片后进行机台调试。

FS是周期性信号的变换，中文名为傅里叶级数，有两种形式，指数型的和三角函数型的，本质一样。

FT是非周期信号的变换，中文名为傅里叶变换。其实傅里叶变换是由傅里叶级数引申而来的。将非周期函数看做周期为无限大的周期函数。具体可以参考吴大正版的《信号与系统》。

DFS是离散傅里叶级数，是周期信号在时域上的采样，造成频域的周期延拓。

DFT是离散傅里叶变换，只是DFS频域上的主值区间。

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