在牛顿环实验中,反射光与透射光所形成的干涉条纹有什么不同
反射光与透射光形成的干涉条纹是互补的,即反射干涉条纹是亮纹的地方对应的投射干涉条纹是暗纹,原因就在于光从光疏介质射到光密介质,在界面上发生反射,是有半波损失的。
实验注意事项:
1、 聚焦时,G的位置距物镜约为1厘米处,不要盲目操作,以免压断反光玻璃片。
2、 测量时不能振动,读数显微镜不可摇晃,且勿数错数。
3、 不可用手抚摸牛顿环仪光学表面,若不清洁,要用专门的揩镜纸擦拭。
扩展资料:
实验内容要求:
1、 接通钠光源,预热5分钟后,使读数显微镜物镜对准牛顿环的中央部分。
2、 调节读数显微镜,看到清楚的明暗条纹,且条纹与叉丝无视差。
3、 将牛顿环调整在量程范围内,然后用右手反转副齿轮,将十字叉丝移到右35暗环时再用右手正转,使叉丝开始向左推进。
直到纵丝压到第30暗环环纹中央,记下显微镜读数即该暗环标度X30,再缓慢转动副齿轮,使纵丝依次对准第25、20、15、10等暗环环纹中央,记下每次暗环的标度X25, X20, X15, X10。
4、 继续转动副齿轮,使纵丝经过牛顿环中心暗斑到另一方,对准第10~30环,依次记下相应的标度X10,, X15,, X20,, X25,, X30,。
百度百科-牛顿环实验
首先,光在界面的反射和折射是光与物质极化和电子相互作用的结果,才有介电常数和折射率这一说。然后,要分清界面透过率和整体透过率。界面透过率小,反射率就大。通过界面的光,吸收越大,整体透过率就越小。
金属无带隙,电子处于费米面,为自由电子,所以不存在电子跃迁吸收光这个说法。金属对于光的吸收来自于自由电子振动发热。物质对于光的反射和折射是与其电导率相关的,具体表现为复数的介电常数,所以除非是完全绝缘体,否则必然会出现复介电常数,具体可参考电动力学麦克斯韦方程组。金属无带隙,电导率大,最终导致界面反射大,界面透过小,参考光学。另一方面,频率越低,反射率越大。所以金属大多呈白色,最不济也是**。有些如紫铜等,那些是因为杂质和其中的金属氧化物造成的。透过金属表面的光,却因为电子的自由振荡全部转化为热,其穿透深度一般小于100纳米,所以整体透过率为零,金属完全不透光。
半导体不同,因为其带隙大,电导率小,无自由电子,所以其表面反射率小,表面透过率大。半导体对于光的吸收来自于电子跃迁,高频光能量大,更有利于电子跃迁,低频光无法激发电子跃迁,基本透过。所以透过其表面的光,高频的在内部被吸收,低频的透过。
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