PXRD、WXRD、XRD的区别

不同的指示物。

1、小角度衍射：利用聚焦在电子显微镜直镜中的电子束辐照样品，在原子静电场的作用下，电子将束散射。

2、x射线衍射（XRD）：通过对材料进行x射线衍射，分析其衍射图案，获得材料的组成、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。

二、不同的特征

1、小角度衍射：在消除反射、折射和二次散射后，通过放大得到样品的高度分散衍射。

2、XRD：用来测定晶体结构。晶体结构使入射的x射线光束在许多特定的方向上发生衍射。通过测量这些衍射光束的角度和强度，晶体学家可以产生晶体内电子密度的三维图像。从这个电子密度，晶体中的原子的平均位置，他们的化学键，其他信息可以确定。

三、用处不同

1、小角衍射：主要用于高分子物质的结构分析。

2、XRD：已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。

高分子的表征方法有哪些：?

1，力学性能表征：模量及拉伸强度；

2，热力学表征：DCS/DTA；

3，粘度测试及表征：流变；

4，结构表征：扫描电镜(SEM)及二维广角X射线衍射(2D-WAXD)；

5，化学结构分析：质谱，气液色谱 。